應(yīng)用領(lǐng)域

Application area

聯(lián)系我們

contact us


上海測宇科學(xué)儀器科技有限公司

地 址:上海市嘉定區(qū)真南路4929古漪商務(wù)大廈603室

聯(lián)系人:孟先生 13585785050

總 機(jī):021-65142150,65029510

傳 真:021-65029530

郵 編:200092

E-mail:738304336@qq.com  mengjiaming@rigaku.com.cn

節(jié)假日請撥打: 13585785050

您當(dāng)前位置:網(wǎng)站首頁 > 應(yīng)用領(lǐng)域

織構(gòu)和極圖

  在材料科學(xué)中,織構(gòu)表述樣品晶體取向分布。 樣品這些取向是隨機(jī)的被稱為隨機(jī)織構(gòu)。如果晶體取向不隨機(jī),而是有些擇優(yōu)取向,樣品則有弱,強(qiáng)和中等織構(gòu)。織構(gòu)程度取決于晶體擇優(yōu)取向的百分比。織構(gòu)存在于幾乎全部工程材料中,且對材料性能的影響很大??棙?gòu)經(jīng)常用"極圖"來表示。

系統(tǒng)

  • 高功率 (18 kW) θ/θ XRD: TTRAX III
  • 微區(qū)XRD: RAPID II
  • 多目的高性能XRD: Ultima IV
  • 全自動XRD: SmartLab?