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上海測(cè)宇科學(xué)儀器科技有限公司

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顆粒尺寸及形狀

  納米粒子和納米晶體材料的粒徑大小,形狀和結(jié)構(gòu),包括表面積,溶解度,反射率等影響其物理和化學(xué)特性。晶粒尺寸是通過(guò)測(cè)量晶胞內(nèi)特定平面的衍射圖樣中一定寬度的X射線(xiàn)衍射峰來(lái)確定的。晶體尺寸與FWHM負(fù)相關(guān):峰越窄,晶體尺寸越大。由于晶域的周期性, X射線(xiàn)強(qiáng)度越強(qiáng),峰越尖銳。如果晶體無(wú)缺陷且呈周期性,X射線(xiàn)產(chǎn)生衍射以同樣角度穿過(guò)多層樣品。如果晶體隨機(jī)排列,或周期性較差,其結(jié)果是一個(gè)較寬的峰。

系統(tǒng)

  • 高功率 (18 kW) θ/θ XRD: TTRAX III
  • 多目的高性能XRD: Ultima IV
  • 全自動(dòng)XRD: SmartLab?