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晶體取向
單晶成為研究眾多科技產(chǎn)品的基礎。單晶的電子特性是半導體工業(yè)的關鍵而單晶的磁學性質(zhì)是磁性存貯設備性能的關鍵。單晶的機械和化學特性是材料科學進步的基礎。大多情況下，單晶的特性不僅在于晶體性質(zhì)和質(zhì)量，更依賴于其取向。單晶取向測定是單晶應用技術中必不可少的一步。目前，X射線衍射儀成為確定晶體取向常用的方法。
系統(tǒng)
-
智能XRD: SmartLab?
-
高性能XRD: Ultima IV
單晶成為研究眾多科技產(chǎn)品的基礎。單晶的電子特性是半導體工業(yè)的關鍵而單晶的磁學性質(zhì)是磁性存貯設備性能的關鍵。單晶的機械和化學特性是材料科學進步的基礎。大多情況下，單晶的特性不僅在于晶體性質(zhì)和質(zhì)量，更依賴于其取向。單晶取向測定是單晶應用技術中必不可少的一步。目前，X射線衍射儀成為確定晶體取向常用的方法。
系統(tǒng)
- 智能XRD: SmartLab?
- 高性能XRD: Ultima IV
