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上海測(cè)宇科學(xué)儀器科技有限公司
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結(jié)構(gòu)
X射線熒光光譜儀（XRF）和X射線衍射儀(XRD)兩種常用技術(shù)無(wú)損確定未知樣品組成。X射線熒光光譜儀提供從B到U的成分信息，含量范圍從ppm到百分含量。使用基本參數(shù)法，XRF提供無(wú)標(biāo)定量分析。X射線衍射提供相結(jié)構(gòu)識(shí)別和區(qū)分樣品中主要，次要，和微量元素的化合物。XRD分析包括礦物名稱，化學(xué)式，晶體系統(tǒng)，并參考ICDD數(shù)據(jù)庫(kù)。XRD使用Rietveld分析也可簡(jiǎn)單獲得定量信息。
系統(tǒng)
-
臺(tái)式XRD: MiniFlex600
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智能XRD: SmartLab?
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高性能XRD: Ultima IV
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微區(qū)衍射: RAPID II
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低成本 XRF: Primini , Supermini
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高性能 XRF: Primus, Primus II, Primus Ⅲ+
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高通量 XRF: Simultix 14
X射線熒光光譜儀（XRF）和X射線衍射儀(XRD)兩種常用技術(shù)無(wú)損確定未知樣品組成。X射線熒光光譜儀提供從B到U的成分信息，含量范圍從ppm到百分含量。使用基本參數(shù)法，XRF提供無(wú)標(biāo)定量分析。X射線衍射提供相結(jié)構(gòu)識(shí)別和區(qū)分樣品中主要，次要，和微量元素的化合物。XRD分析包括礦物名稱，化學(xué)式，晶體系統(tǒng)，并參考ICDD數(shù)據(jù)庫(kù)。XRD使用Rietveld分析也可簡(jiǎn)單獲得定量信息。
系統(tǒng)
- 臺(tái)式XRD: MiniFlex600
- 智能XRD: SmartLab?
- 高性能XRD: Ultima IV
- 微區(qū)衍射: RAPID II
- 低成本 XRF: Primini , Supermini
- 高性能 XRF: Primus, Primus II, Primus Ⅲ+
- 高通量 XRF: Simultix 14
